MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

Las imágenes que se obtienen en el microscopio electrónico de barrido corresponden a electrones secundarios o electrones retrodispersados emitidos tras la interacción con la muestra de un haz incidente de entre 0.02 y 30 KeV.

El haz de electrones se desplaza sobre la muestra realizando un barrido en las direcciones X e Y de tal modo que la posición en la que se encuentra el haz en cada momento coincide con la aparición de brillo, proporcionalmente a la señal emitida, en un determinado punto de la pantalla.

La señal de electrones secundarios se forma en una delgada capa superficial, del orden de 50 a 100 Å. Son electrones de baja energía, menos de 50 eV, que pueden ser desviados fácilmente de su trayectoria emergente inicial y permiten obtener información de zonas que no están a la vista del detector. Esta particularidad otorga a esta señal la posibilidad de aportar información “en relieve”.

La emisión de electrones retrodispersados depende fuertemente del número atómico de la muestra. Esto implica que dos partes de la muestra que tengan distinta composición se revelan con distinta intensidad aunque no exista ninguna diferencia de topografía entre ellas.

Los rayos X que se generan en una muestra sometida a bombardeo electrónico permiten identificar los elementos presentes y establecer su concentración.

 

Aplicaciones

Las aplicaciones de la técnica son muy numerosas tanto en ciencia de materiales, como en ciencia biomédica. Dentro de la ciencia de materiales destacan las aplicaciones en metalurgia, petrología y mineralogía, materiales de construcción, materiales cerámicos tradicionales y avanzados, electrónica, fractografía y estudio de superficies y composición elemental de sólidos en general. La microscopía electrónica de barrido también se aplica en botánica, en el estudio de cultivos celulares, en dermatología, en odontoestomatología y biomateriales, en hematología, inmunología, y en el estudio de la morfología de preparaciones biomédicas en general.

 

Equipamiento

  • Microscopio electrónico de barrido marca Hitachi modelo S3000N. Este microscopio cuenta con un detector de rayos X marca Bruker modelo XFlash 3001 para microanálisis (EDS) y mapping. Dispone del modo de trabajo en presión variable para observación de muestras no conductoras sin necesidad de recubrirlas con material conductor.

sem hitachi 

 

 

 

  • Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) marca ZEISS modelo Merlin VP Compact equipado con un sistema de microanálisis por EDX marca BRUKER modelo Quantax 400. La resolución que alcanza es 0,8 nm a 15 kV y 1,6 nm a 1 kV. Los equipos de emisión de campo son capaces de trabajar a voltajes muy reducidos (de 0,02 kV a 30 kV) permitiendo observar muestras sensibles al haz de electrones sin dañarlas y minimizando los efectos de carga. 

 

  Cofinanciado en un 80 % por el P.O. FEDER 2007-2013 de la Comunitat Valenciana y en un 20 % por la Generalitat Valenciana

  

Instrumental para la preparación de muestras:

 

  • Metalizador (Au) / evaporador (C) marca BALZERS modelo SCD 004
  • Metalizador / evaporador marca BALZERS modelo MED 020
  • Metalizador / Evaporador marca Quorum modelo Q150T ES Plus
  • Estufa de vacío marca J.P. Selecta modelo VACIOTEM-TV 4001490

 

Requisitos de las muestras

  • Las muestras deben entregarse adecuadamente etiquetadas, envasadas y acondicionadas para asegurar su identificación, integridad y conservación durante el transporte y garantizar la seguridad del personal que lo realiza.
  • Las muestras deben ser sólidas y estar exentas de humedad, disolventes y líquidos en general.
  • Se procurará que las muestras tengan el menor tamaño que permitan las características particulares de cada una aceptándose como tamaño máximo 4 cm de diámetro y 1 cm de altura para SEM y 1 cm de diámetro y 0.5 cm de altura para FESEM.
  • Las muestras deben tener un punto de fusión superior a 100º C.
  • Si las muestras no son conductoras se les realizará un recubrimiento con material conductor a criterio del personal técnico.
  • Si el personal técnico lo considera necesario, las muestras se someterán a un tratamiento térmico en vacío.
  • Independientemente de la naturaleza de la muestra, siempre se procederá a su preparación sobre el soporte adecuado al microscopio.