MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO Servicios Técnicos de Investigación

Ir a contenido Ir a Estudios, Gobernanza y organización
Logo UA
Realizar búsqueda
Menú
Servicios
Logo Servicios Técnicos de Investigación   Servicios Técnicos de Investigación
Servicios Técnicos de Investigación

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

Las imágenes que se obtienen en el microscopio electrónico de barrido corresponden a electrones secundarios o electrones retrodispersados emitidos tras la interacción con la muestra de un haz incidente de entre 5 y 30 KeV.

El haz de electrones se desplaza sobre la muestra realizando un barrido en las direcciones X e Y de tal modo que la posición en la que se encuentra el haz en cada momento coincide con la aparición de brillo, proporcionalmente a la señal emitida, en un determinado punto de la pantalla.

La señal de electrones secundarios se forma en una delgada capa superficial, del orden de 50 a 100 Å. Son electrones de baja energía, menos de 50 eV, que pueden ser desviados fácilmente de su trayectoria emergente inicial y permiten obtener información de zonas que no están a la vista del detector. Esta particularidad otorga a esta señal la posibilidad de aportar información “en relieve”.

La emisión de electrones retrodispersados depende fuertemente del número atómico de la muestra. Esto implica que dos partes de la muestra que tengan distinta composición se revelan con distinta intensidad aunque no exista ninguna diferencia de topografía entre ellas.

Los rayos X que se generan en una muestra sometida a bombardeo electrónico permiten identificar los elementos presentes y establecer su concentración.

 

Aplicaciones

Las aplicaciones de la técnica son muy numerosas tanto en ciencia de materiales, como en ciencia biomédica. Dentro de la ciencia de materiales destacan las aplicaciones en metalurgia, petrología y mineralogía, materiales de construcción, materiales cerámicos tradicionales y avanzados, electrónica, fractografía y estudio de superficies y composición elemental de sólidos en general. La microscopía electrónica de barrido también se aplica en botánica, en el estudio de cultivos celulares, en dermatología, en odontoestomatología y biomateriales, en hematología, inmunología, y en el estudio de la morfología de preparaciones biomédicas en general.

 

Equipamiento

sem hitachi 

 

 

 

  • Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) marca ZEISS modelo Merlin VP Compact equipado con un sistema de microanálisis por EDX marca BRUKER modelo Quantax 400. La resolución que alcanza es 0,8 nm a 15 kV y 1,6 nm a 1 kV. Los equipos de emisión de campo son capaces de trabajar a voltajes muy reducidos (de 0,02 kV a 30 kV) permitiendo observar muestras sensibles al haz de electrones sin dañarlas y minimizando los efectos de carga. 

 

  Cofinanciado en un 80 % por el P.O. FEDER 2007-2013 de la Comunitat Valenciana y en un 20 % por la Generalitat Valenciana

  

Instrumental para la preparación de muestras:

 

Requisitos de las muestras