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DIFRACCIÓN DE RAYOS X DE MONOCRISTAL

La difracción de rayos X se produce por la interacción entre el haz de rayos X y los electrones del entorno ordenado de un cristal debido a que las distancias entre los centros de dispersión son del mismo orden de magnitud que la longitud de onda de la radiación. La cristalografía por difracción de rayos X consiste en medir las intensidades de los haces difractados por la muestra, un monocristal, mediante un detector adecuado y, a partir de estos reconstruir matemáticamente la distribución electrónica en la celdilla unidad, cuyos máximos corresponderán de forma aproximada a las posiciones atómicas.

 

Aplicaciones

La difracción de rayos X de monocristal puede proporcionar información detallada de la estructura tridimensional en estado sólido de muestras cristalinas de compuestos orgánicos, inorgánicos y organometalicos, consistiendo en la descripción geométrica en términos de distancias y ángulos de enlace, ángulos de torsión, ... También se puede obtener información sobre empaquetamientos, interacciones intermoleculares, ...

En el caso de cristales de buena calidad de compuestos ópticamente activos que tengan en la molécula un átomo pesado de Z>14, se podría determinar la estructura absoluta de los mismos.

 

Equipamiento

 

  • Paquete de programas para la resolución de estructuras SHELXTL, que engloba los programas necesarios para la determinación del grupo espacial, correcciones de absorción, determinación inicial de la estructura por métodos directos o Patterson, refino de los datos estructurales, representación gráfica de los ficheros de resultados, generación de tablas de datos experimentales (posiciones atómicas, longitud de enlace, ángulos, parámetros de desplazamiento anisótropo) a partir de ficheros CIF y simulación y representación de modelos de polvo a partir de los datos de monocristal.

 

foto monocristal          monocristal detalle

Equipo cofinanciado por el Programa Operativo Integrado FEDER-FSE 2000-2006. Ministerio de Ciencia y Tecnología


FEDER

Requisitos de las muestras