DIFRACCIÓN DE RAYOS X Servicios Técnicos de Investigación

Ir a contenido Ir a Estudios, Gobernanza y organización
Logo UA
Realizar búsqueda
Menú
Servicios
Logo Servicios Técnicos de Investigación   Servicios Técnicos de Investigación
Servicios Técnicos de Investigación

DIFRACCIÓN DE RAYOS X

La Difracción de Rayos X está basada en las interferencias ópticas que se producen cuando una radiación monocromática atraviesa una rendija de espesor comparable a la longitud de onda de la radiación. Los Rayos X tienen longitudes de onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias interatómicas de los componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se difractan con ángulos que dependen de las distancias interatómicas. El método analítico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X sobre una muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la Ley de Bragg: nλ = 2d . senθ, en la que “d” es la distancia entre los planos interatómicos que producen la difracción.

 

Aplicaciones

La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el análisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de capa fina, cerámicas y semiconductores. La aplicación fundamental de la Difracción de Rayos X es la identificación cualitativa de la composición mineralógica de una muestra cristalina

Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la determinación de tamaños de cristales, la determinación del coeficiente de dilatación térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la asignación de distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los parámetros de la red.

Además, uno de los equipos de difracción que posee la unidad se puede configurar para obtener las siguientes aplicaciones:

 


Equipamiento

Bruker D8-Advance con espejo Göebel (muestras no planas) con cámara de alta temperatura (hasta 900ºC), con un generador de rayos-x  KRISTALLOFLEX K 760-80F (Potencia: 3000W, Tensión: 20-60KV y Corriente: 5-80mA) provisto de un tubo de RX con ánodo de cobre. Se dispone de la base de datos de la ICDD (International Center for Diffraction Data).

DifraccionRX

FEDER

 

Panalytical Empyrean equipo multifuncional para el análisis por difracción de rayos X. El equipo en su configuración básica dispone de goniómetro con un tubo de rayos X con cátodo de Cu Kα, y un detector PIXcel 3D. La configuración permite el montaje de diferentes módulos (SAX, Reflectometría, etc.) de fácil instalación con posiciones PreFix. El equipo posee además una cámara de reacción para análisis de cambio de fase de los materiales durante su calentamiento hasta una temperatura de 900°C. Se dispone de la base de datos de la ICDD (International Center for Diffraction Data) y de la base de datos de la COD (Crystallography Open Database) para determinación de minerales y compuestos.

 Empyream

FEDER

 

Requisitos de las muestras