MICROSCÒPIA ELECTRÒNICA D'ESCOMBRATGE

Les imatges que s'obtenen en el microscopi electrònic d'escombratge corresponen a electrons secundaris o electrons retrodispersats emesos després de la interacció amb la mostra d'un fes incident d'entre 0.02 i 30 KeV.

El feix d'electrons es desplaça sobre la mostra realitzant un escombratge en les direccions X i Y de tal manera que la posició en la qual es troba el feix a cada moment coincideix amb l'aparició de lluentor, proporcionalment al senyal emès, en un determinat punt de la pantalla.

El senyal d'electrons secundaris es forma en una prima capa superficial, de l'ordre de 50 a 100 Å. Són electrons de baixa energia, menys de 50 eV, que poden ser desviats fàcilment de la seua trajectòria emergent inicial i permeten obtenir informació de zones que no estan a la vista del detector. Aquesta particularitat atorga a aquest senyal la possibilitat d'aportar informació “en relleu”.

L'emissió d'electrons retrodispersats depèn fortament del nombre atòmic de la mostra. Açò implica que dues parts de la mostra que tinguen diferent composició es revelen amb diferent intensitat encara que no existisca cap diferència de topografia entre elles.

Els rajos X que es generen en una mostra sotmesa a bombardeig electrònic permeten identificar els elements presents i establir la seua concentració.

 

Aplicacions

Les aplicacions de la tècnica són molt nombroses tant en ciència de materials, com en ciència biomèdica. Dins de la ciència de materials destaquen les aplicacions en metal·lúrgia, petrologia i mineralogia, materials de construcció, materials ceràmics tradicionals i avançats, electrònica, fractografia i estudi de superfícies i composició elemental de sòlids en general. La microscòpia electrònica d'escombratge també s'aplica en botànica, en l'estudi de cultius cel·lulars, en dermatologia, en odontoestomatologia i biomaterials, en hematologia, immunologia, i en l'estudi de la morfologia de preparacions biomèdiques en general.

 

Equipament

  • Microscopi electrònic d'escombratge marca Hitachi model S3000N. Aquest microscopi té un detector de rajos X marca Bruker model XFlash 3001 per a microanàlisi (EDS) i mapatge. Disposa d'un mode de funcionament en pressió variable per a observació de mostres no conductores sense necessitat de recobrir-les amb material conductor.
sem hitachi

 

 

 

  • **Microscopi electrònic d'escombratge d'emissió de camp (FESEM) marca ZEISS model Merlin VP Compact equipat amb un sistema de microanàlisi per EDX marca BRUKER model Quantax 400. La resolució que aconsegueix és 0,8 nm a 15 kV i 1,6 nm a 1 kV. Els equips d'emissió de camp poden treballar a voltatges molt reduïts (de 0,02 kV a 30 kV) i permeten observar mostres sensibles al feix d'electrons sense danyar-les i minimitzant els efectes de càrrega. 

 

  

Cofinançat en un 80 % pel P. O. FEDER 2007-2013 de la Comunitat Valenciana i en un 20 % per la Generalitat Valenciana

 

Instrumental per a la preparació de mostres:

 

  • Metal·litzador (Au) / Evaporador (C) marca BALZERS model SCD 004
  • Metal·litzador / Evaporador marca BALZERS model MED 020
  • Metal·litzador/ Evaporador marca Quòrum model Q150T ÉS Plus
  • Estufa de buit marca J.P. Selecta model VACIOTEM-TV 4001490

 

Requisits de les mostres

  • Les mostres han de lliurar-se adequadament etiquetades, envasades i condicionades per a assegurar la seua identificació, integritat i conservació durant el transport i garantir la seguretat del personal que el realitza.
  • Les mostres han de ser sòlides i estar exemptes d'humitat, dissolvents i líquids en general.
  • Es procurarà que les mostres tinguen la menor grandària que permeten les característiques particulars de cadascuna acceptant-se com a grandària màxima 4 cm de diàmetre i 1 cm d'altura per a SEM i 1 cm de diàmetre i 0.5 cm d'altura per a FESEM.
  • Les mostres han de tenir un punt de fusió superior a 100º C.
  • Si les mostres no són conductores se'ls realitzarà un recobriment amb material conductor a criteri del personal tècnic.
  • Si el personal tècnic el considera necessari, les mostres se sotmetran a un tractament tèrmic en buit.
  • Independentment de la naturalesa de la mostra, sempre es procedirà a la seua preparació sobre el suport adequat al microscopi.