DIFRACCIÓ DE RAJOS X Serveis Tècnics d'Investigació

Ir a contenido Ir a Estudios, Gobernanza y organización
Logo UA
Realizar búsqueda
Menú
Serveis
Logo Serveis Tècnics d'Investigació   Serveis Tècnics d'Investigació
Serveis Tècnics d'Investigació

DIFRACCIÓ DE RAJOS X

La Difracció de rajos X està basada en les interferències òptiques que es produeixen quan una radiació monocromàtica travessa una escletxa d'espessor comparable a la longitud d'ona de la radiació. Els rajos X tenen longituds d'ona d'Àngstroms, del mateix ordre que les distàncies interatòmiques dels components de les xarxes cristal·lines. En ser irradiats sobre la mostra a analitzar, els rajos X es difracten amb angles que depenen de les distàncies interatòmiques. El mètode analític de la Pols a l'Atzar o de Debye-Scherrer consisteix a irradiar amb rajos X sobre una mostra formada per multitud de cristalls col·locats a l'atzar en totes les direccions possibles. Per això és aplicable la Llei de Bragg: nλ = 2d•sinθ, en la qual “d” és la distància entre els plànols interatòmics que produeixen la difracció.

 

Aplicacions

La difracció de rajos X és un mètode d'alta tecnologia no destructiu per a l'anàlisi d'una àmplia gamma de materials, fins i tot fluïts, metalls, minerals, polímers, catalitzadors, plàstics, productes farmacèutics, recobriments de capa fina, ceràmiques i semiconductors. L'aplicació fonamental de la Difracció de rajos X és la identificació qualitativa de la composició mineralògica d'una mostra cristal·lina.

Altres aplicacions són l'anàlisi quantitativa de compostos cristal·lins, la determinació de grandàries de cristalls, la determinació del coeficient de dilatació tèrmica, així com càlculs sobre la simetria del cristall i especialment l'assignació de distàncies a determinades famílies de plànols i l'obtenció dels paràmetres de la xarxa.

A més, un dels equips de difracció es pot configurar per a obtenir les següents aplicacions:

 

Equipament

Bruker D8-Advance amb espill Göebel (mostres no planes) amb cambra d'alta temperatura (fins a 900ºC), amb un generador de rajos-x KRISTALLOFLEX K 760-80F (Potència: 3000W, Tensió: 20-60KV i Corrent: 5-80dt.) proveït d'un tub de RX amb ànode de coure. Es disposa de la base de dades de la ICDD (International Center for Diffraction Data).

 

DifraccionRX

FEDER
Panalytical Empyrean equip multifuncional per a l'anàlisi per difracció de raigs X. L'equip en la seua configuració bàsica disposa de goniòmetre amb un tub de raigs X amb càtode de Cu Kα, i un detector PIXcel 3D. La configuració permet el muntatge de diferents mòduls (SAIX, Reflectometría, etc.) de fàcil instal·lació amb posicions PreFix. L'equip posseeix a més una cambra de reacció per a anàlisi de canvi de fase dels materials durant el seu calfament fins a una temperatura de 900°C. Es disposa de la base de dades de la ICDD (International Center for Diffraction Data) i de la base de dades de la COD (Crystallography Open Database) per a determinació de minerals i compostos.
FEDER

 

Requisits de les mostres